跳轉到
Knowledge article

9月29日ITT(Intel Technology Tour) 2025於美國亞利桑那州舉行,主題是「製程突破與美國在地製造」,聚焦 18A 製程(RibbonFET + PowerVia),主要展示產品包括 Panther Lake(Core Ultra 3) 與 Clearwater…

本頁目錄

9月29日ITT(Intel Technology Tour) 2025於美國亞利桑那州舉行,主題是「製程突破與美國在地製造」,聚焦 18A 製程(RibbonFET + PowerVia),主要展示產品包括 Panther Lake(Core Ultra 3) 與 Clearwater…

  • Source: Ted Yu
  • Published: 2025-10-16T08:47:45+08:00
  • URL: https://ytyuted.substack.com/p/ep20-intel-18a EP20. Intel 18A - Ted Yu

Pledge your support

SI_PI Frontier's avatar

EP20. Intel 18A

Ted Yu's avatar

Oct 16, 2025

9月29日ITT(Intel Technology Tour) 2025於美國亞利桑那州舉行,主題是「製程突破與美國在地製造」,聚焦18A 製程(RibbonFET + PowerVia),主要展示產品包括Panther Lake(Core Ultra 3)與Clearwater Forest(Xeon 6+),並強調 AI 全域布局與供應鏈在地化,是Intel 展現製程復興的重要里程碑。就來聊聊Intel的新工藝,歡迎討論。

image 3

1. 製程工藝

1.1. 5N4Y

IntelPat Gelsinger在 2021 年接任 CEO 時,Intel 剛經歷 7 nm 延誤與製程信任崩盤。

他以「5 Nodes in 4 Years」為復興宣言,從Intel 7 → 4 → 3 → 20A → 18A逐步推進,期望在 2025 年重奪製程領先。其核心目的在於重奪製程領先地位、挑戰台積電與三星。

Pledge your support

Intel 7 / 4 / 3:屬於 FinFET 世代,逐步導入 EUV。

Intel 20A:引入新架構RibbonFET(GAA)與PowerVia(背面供電)。

Intel 18A:5N4Y 的收官節點,針對高效能與低功耗優化。

image 4

1.2. 計畫 vs. 實際

image 5

這四年間,Intel 7 與 4 的量產恢復節奏,Intel 3 成功導入伺服器產品,20A 雖延誤,但 18A 應該順利進展,領先推出RibbonFET(GAA)與PowerVia(BSPDN,背面供電)的產品。

1.3. 技術亮點

先進製程

Intel 先進製程的兩大核心技術:RibbonFET 與 PowerVia。

RibbonFET:Intel 首次採用的GAA(Gate-All-Around)架構,以多層「nanosheet」取代傳統 FinFET,改善通道電流控制,提升性能與能效。

PowerVia:Intel 首創的背面供電網路(Backside Power Delivery Network),將電源線移至晶片背面,解決供電與佈線擁擠問題,提升速度與良率。

image 6

先進封裝

Clearwater Forest 展現 Intel 在3D 封裝(Foveros + EMIB)的成熟整合能力,象徵其朝向高效能、多晶片模組化伺服器平台的技術方向。

image 7

封裝技術:採用EMIB(Embedded Multi-die Interconnect Bridge)與Foveros 3D 堆疊技術。

結構特色:

下層為Base chiplet(基板晶片),整合 I/O 與電源管理。

上層堆疊多個CPU chiplet(運算晶片),透過垂直 TSV(Through-Silicon Via) 互連進行高速通訊。

EMIB 橋接晶片間的橫向訊號,提升頻寬並降低封裝厚度。

優點:

大幅提升晶片密度與互連效率。

支援高功率伺服器處理器的散熱與電源分配需求。

以下介紹這些工藝,並與TSMC比較,關於Panther Lake 的介紹,請參考Reference。

2. 先進製程

2.1. 半導體開發的四大指標(PPAC)

image 8

source: IEDM’24

技術開發是一門在功耗、效能、面積與成本四個向量間權衡取捨的藝術(Technology Development is an art of balancing among these four vectors)。

2.2. FinFET → GAA/Nanosheet/RibbonFET

image 9

上圖說明了FinFET 轉向 GAA(Gate-All-Around)結構的主要動機:

——強化閘極控制能力(Gate Control Capability)以降低功耗與短通道效應(SCE)。

FinFET 的限制:

隨著製程微縮,鰭片(fin)高度有限、閘極僅包覆三面,導致短通道效應(SCE)惡化,閾值電壓 Vth難以再縮,進而限制 Vmin與 功耗下降幅度。

GAA(如 RibbonFET)的改進:

採用「環繞式閘極(Gate-All-Around)」包覆通道,可更精確控制通道電場,抑制漏電流ILKG、提升 SCE 控制與Vth穩定性。

這使晶體管能在更低 V 運作、減少 AF·C·V²·f 項的動態功耗和ILKG·V項靜態功耗。

因此,FinFET → GAA 的轉變,根本原因在於:

提升閘極控制能力,支撐電壓縮放與功率下降,實現更高性能/更低功耗的延展性。

image 10

source: AMAT

有關BEOL(Back End Of Line)的RC 材料的問題,請參考EP12. Semi Technologies的介紹。

關於Pcomm涉及通訊的方式,請參考Yole提供的資料:

image 11

2.3. Transistor Scaling Evolution:

傑出的科學家們,依照PPAC的指標,已經規劃好晶體管微縮(Transistor Scaling)演進的趨勢:

image 12

source: IEDM’23

1️⃣ FinFET → GAA/Nanosheet(TSMC)/RibbonFET(Intel)

FinFET 採三面閘極包覆鰭片;當鰭片寬度與高度再縮小時,短通道效應(SCE)難以抑制。

GAA(Gate-All-Around)或 Nanosheet 採多層通道被閘極完全包覆,改善閘極控制、降低漏電。

2️⃣ Forksheet

在 P/N 晶體管間加入絕緣牆(Middle Dielectric Wall),縮短 P/N 間距 Pitch,同時保持良好的閘極控制。

可提升密度,作為通往 3D 結構的過渡架構。

3️⃣ CFET(Complementary FET)

將 NMOS 與 PMOS垂直堆疊:

Monolithic 3D:上下層使用相同通道材料;製程連續形成。

Sequential 3D:上下層使用不同材料(如 Si NMOS / SiGe PMOS),可獨立最佳化。

大幅減少標準單元面積,突破 2D Pitch 縮放極限。

4️⃣ Stacked 2D Material

最終階段採用2D 材料通道(如 MoS₂、WS₂),可極薄 (<1 nm) 且具理想電子遷移率。

有潛力實現更緊密堆疊與低功耗運作,為後 FinFET 世代關鍵方向。

image 13

source: ASMI

關於2D 材料, TMD(Transition Metal Dichalcogenides 過渡金屬二硫族化合物),最近有重大突破!復旦大學研究團隊打造全球首個二维-矽基閃存,參考Reference。也許會提前應用在GAA的Channel 上。

image 14

勤奮的工程師們,會按這些技術路線將產品開發出來。

2.4. Atom level of GAA

下圖展示了GAA(Gate-All-Around)晶體管在原子層級的結構與製程挑戰:

image 15

source: AMAT

GAA 採用多層矽奈米片(Silicon Nanosheet)作為通道,並由高介電閘極氧化層(Gate Oxide)及金屬閘極(Metal Gate)全面包覆。

由於上下奈米片間距僅約10 nm,在此極微空間內需堆疊超過5 種不同材料,每層厚度僅1–2 nm,且製程需達 1 Å(0.1 nm)級精度。

這使 GAA 成為真正的「原子級製程(Atomic-Level Engineering)」代表技術——

任何界面粗糙或原子擴散都可能造成電流洩漏或性能衰減,顯示出先進製程對材料科學與介面控制的極高要求。

2.5. BSPDN(Backside Power Delivery Network)

BSPDN(Backside Power Delivery Network)是先進晶片中將電源傳輸網路移至晶片背面(Backside)的革命性設計,Intel 將其稱為PowerVia,並率先在Intel 18A 製程中導入。

image 16

source: IEDM’ 24

這種設計讓電源從背面供應、訊號從正面傳輸,可縮短供電路徑、降低 IR drop、提升供電效率。前端金屬層可專注於訊號線,提升 routing 效率與延遲控制。

實測顯示相較傳統設計可提升約6% 頻率,並放寬前端金屬佈線密度,是 Intel 18A 製程的重要創新技術。

BSPDN 被視為後 FinFET 時代的關鍵基礎技術,它突破了傳統「電源與訊號共平面」的限制,實現了真正的三維電力分層架構(3D PDN),對於未來高功率密度的 AI、CPU、GPU 晶片設計至關重要。

BSPDN的方法

image 17

source: AMATIntel PowerVia — 屬於「Power Via」架構

電源由晶片背面進入,透過Power Via (奈米級垂直通孔)直接連接至前端電晶體電源節點。

優點:縮短電源路徑、降低 IR drop、改善功率效率與時脈穩定。

製程特性:已在 Intel 18A 導入,技術成熟度高、製程複雜度中等。

TSMC A16 — 屬於「Backside Contact to S/D」架構

電源從晶片背面直接接觸Source/Drain 區,不經前端金屬層。

優點:供電阻抗最低、前端金屬完全釋放給訊號層使用、整體效率最佳。

製程特性:需雙面製程對位與外延控制,複雜度最高,預計應用於 A16

image 18

BSPDN製程

image 19

source: AMAT

🧱製程階段簡介

1️⃣FEOL(Front-End of Line) – Transistor Fabrication

在矽晶圓上形成 GAA 電晶體,包括閘極、源/汲極、接觸孔等。

為整個電路提供主要邏輯運算元件。

2️⃣Frontside BEOL(Signal Interconnect)

沉積多層金屬與介電層,建立前端訊號連線(Signal Routing)。

用於邏輯、時脈與資料傳輸

3️⃣Wafer Bonding / Carrier Attachment(暫時載板)

以載板支撐晶片正面,準備進行背面加工。

此步驟是背面製程(Backside BEOL)能夠安全進行的關鍵。

4️⃣Backside Reveal(去除基板 / 背面曝光)

研磨與化學蝕刻至靠近有源層(Active Layer)位置,暴露電晶體背面接觸點。

5️⃣Backside BEOL(Power Routing Network)

建立背面金屬層與Power Via / Backside Contact,形成完整的電源網路。

此階段決定 BSPDN 類型(如 PowerVia 或 Backside Contact to S/D)。

6️⃣Final Integration(雙面完成)

最終晶圓同時擁有Frontside Signal BEOL與Backside Power BEOL。

電源從背面供應、訊號從正面傳輸,實現完整雙面互連(Dual-Side Interconnect)架構。

BSPDN 整體製程成本約為傳統 FinFET 製程的1.2~1.4 倍。成本主要來自雙面加工、載板貼合、背面金屬沉積與對位控制。然而,其效益(更高頻率、更低功耗、更高 routing 密度)對 HPC / AI 晶片極具價值,因此對高端製程而言屬於「高成本但高回報(High Cost, High Gain)」技術

3. 先進封裝(異質整合)

3.1. 崛起

image 20

這張圖說明了先進封裝(Advanced Packaging)興起的四大主要原因,可概括如下:

1️⃣ 設計與製造成本飆升(Design & Manufacturing Cost)

先進節點(如 3 nm、2 nm)使晶片設計成本與晶圓廠建置成本急劇上升。

單一 SoC 全部採最先進製程已不具經濟效益。

因此改以Chiplet 模組化設計,僅高運算部分使用先進製程,其他 I/O、SRAM 採成熟節點。

2️⃣ 晶片面積與良率問題(Die Size & Yield)

晶片越大,良率隨缺陷密度指數下降,大面積 monolithic die 成本極高。

透過分割成多顆小晶粒(Chiplet)並以先進封裝互連,可大幅提升良率並降低整體成本。

3️⃣ 模組化 IP 整合(Modularized IP Integration)

不同功能(CPU、GPU、SRAM、I/O、DSP 等)可在不同製程節點製作。

再藉由2.5D / 3D 封裝(如 CoWoS、Foveros、SoIC、EMIB)整合成一體化系統。

形成「System of Chiplets」概念,兼顧效能與彈性。

4️⃣ AI 運算需求驅動(AI Computing)

AI 模型需龐大記憶體頻寬與運算密度,傳統 monolithic SoC 無法同時滿足。

先進封裝提供高頻寬、短距離互連(如 HBM + GPU / AI Accelerator)架構,支撐 AI/ML 訓練與推理需求。

先進封裝的崛起,是在成本上升、良率下降、異質整合需求與 AI 高頻寬挑戰四大壓力下的必然結果。

它使系統從「System-on-Chip」轉變為「System-of-Chiplets」,成為後摩爾時代的關鍵演進方向。

3.2. 分類

image 21

這張圖說明了異質整合(Heterogeneous Integration, HI)的整體架構與技術分類,分為兩大主流方向:

1️⃣ 2.5D 封裝

各晶片(CPU、GPU、HBM)橫向並排放置,透過中介層(Interposer)或再配線層(RDL)連接。

代表技術:

TSMC CoWoS、InFO

Intel EMIB / Co-EMIB

Samsung I-Cube

優點:高頻寬、良好散熱、製程成熟。

2️⃣ 3D 封裝

晶片間垂直堆疊(Die-to-Die 或 Wafer-to-Wafer),利用TSV 或 Hybrid Bonding互連。

代表技術:

TSMC SoIC、Intel Foveros / Direct、Samsung X-Cube

HBM、3D NAND為典型應用。

優點:互連距離最短、頻寬最高、適合 AI / HPC。

📘總結:

HI 技術透過2.5D 橫向整合與3D 垂直堆疊,在效能、頻寬與功耗之間達到最佳平衡,是後摩爾時代晶片設計的核心方向。

3.3. Intel vs. TSMC

先進封裝策略:

image 22

image 23

image 24

Roadmap:

image 25

image 26

Intel採「組合式封裝」策略,以EMIB(2.5D)與Foveros(3D)為核心,能橫向與垂直整合多晶片,強調模組化與靈活性。

TSMC則以「平台化封裝」為主,透過3DFabric®統合CoWoS、InFO、SoIC、SoW等技術,從 2.5D 到 3D 形成完整生態,強調製程整合與量產一致性。

3.4. 關鍵技術

image 27

這張圖總結了先進封裝(Advanced Packaging, AP)中實現高頻寬與低功耗整合的幾項關鍵技術:

1️⃣ TSV(Through-Silicon Via)

在晶片內垂直穿孔導通,實現晶片間的垂直互連(Vertical Interconnect)。

主要應用於3D 記憶體堆疊(如 HBM),提供極高頻寬通道。

2️⃣ Micro-bump 互連

傳統晶片堆疊或 2.5D 封裝使用的金屬凸點(Pitch 約 25–55 µm)。

可整合多晶片,但功耗相對高、I/O 密度受限。

3️⃣ Hybrid Bonding(混合鍵合)

最新的無凸塊接合技術(Cu–Cu bonding),Pitch 可小於 10 µm。

提供更高 I/O 密度與更低功耗,是 SoIC、Foveros Direct 等 3D 封裝的基礎。

4️⃣ Si Interposer / RDL Polymer 層

矽中介層(Si interposer):用於 2.5D 封裝(如 CoWoS、EMIB),連接多顆晶片。

Polymer RDL(再配線層):以有機材料構成,降低成本與厚度。

5️⃣ Advanced Substrate(先進基板)

高密度布線基板,用於承載多晶片與封裝層。

改善訊號完整性(SI)與電源傳輸(PDN)效能,支撐大面積 AI/HPC 封裝模組。

📘總結:

先進封裝的關鍵在於2D 與 3D 互連整合:

橫向(2.5D)由 Interposer、RDL、Substrate 提供高頻寬並列整合。

垂直(3D)由 TSV、Microbump、Hybrid Bonding 實現低功耗堆疊。

兩者結合構成當前 AI/HPC 晶片的核心封裝基礎

Hybrid Bonding的重要性

image 28

Hybrid Bonding(混合鍵合)是先進封裝的關鍵技術,能以金屬–金屬直接接合(Cu–Cu)實現無凸塊連接。相比傳統 microbump,HB 可將間距縮小至<10 µm(甚至 <1 µm),使I/O 密度提升百倍、功耗降至 <0.05 pJ/bit,大幅提升頻寬與能效。

➡️ 它是3D 堆疊(如 TSMC SoIC、Intel Foveros Direct)的基礎技術,推動 AI/HPC 晶片邁向高密度、低功耗、原子級互連時代。

3.5. Future Packaging Technology

image 29

image 30

未來封裝技術(Future Packaging Technology)將從單純的晶片互連,進化為整合運算、記憶體、電源與光通訊的完整系統平台。

它結合多項關鍵技術:

3D Stacking / SoIC:以 Hybrid Bonding 垂直堆疊邏輯與記憶體晶片,提升密度與能效。

RDL / Interposer:利用再配線層或中介層整合多顆 chiplet,並嵌入電源與被動元件。

HBM Hybrid Bonding:提供超高頻寬記憶體堆疊。

Co-Packaged Optics(CPO):導入矽光元件,實現高速光互連。

Glass / Large Substrate:支撐大型 AI/HPC 模組,兼顧成本與機械穩定性。

➡️ 簡言之,未來封裝是邁向「系統級整合」的核心技術,

讓運算、記憶體與光互連在單一封裝內協同運作,支撐 AI 與超算的高頻寬需求。

4. 結語

從曾經的半導體霸主,到數年來被台積電與三星迎頭趕上,Intel經歷了一段漫長的低谷。製程延宕、架構轉型與製造領導權的喪失,讓這家矽谷巨人跌下神壇。

隨著Intel 18A的推出——結合RibbonFET(全環閘極晶體管)與PowerVia(背面供電網路)兩大關鍵創新,Intel 不僅完成了製程的技術翻轉,也重新奠定了晶片製造領域的領先基礎。

18A 不只是新節點,更象徵 Intel 重返榮耀的轉捩。

補充

等了1個多月,三圈教練終於製作好Intel 18A的影片了。請參考他精彩的講解:

[Reference]

•Intel 反攻號角吹響?Tech Tour 2025 活動展示 18A 製程、Fab 52 晶圓廠、以及最新筆電 Panther Lake 處理器!

Pledge your support

Harry WU's avatar